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論文

Analysis and mapping of detailed inner information of crystalline grain by wavelength-resolved neutron transmission imaging with individual Bragg-dip profile-fitting analysis

櫻井 洋亮*; 佐藤 博隆*; 足立 望*; 諸岡 聡; 戸高 義一*; 加美山 隆*

Applied Sciences (Internet), 11(11), p.5219_1 - 5219_17, 2021/06

 被引用回数:3 パーセンタイル:41.12(Chemistry, Multidisciplinary)

As a new method for evaluating single crystal and oligocrystal, pulsed neutron Bragg-dip transmission analysis/imaging method is being developed. In this study, a single Bragg-dip profile fitting analysis method was newly developed, and applied for analyzing detailed inner information in a crystalline grain position-dependently. In the method, the spectrum profile of a single Bragg-dip is analyzed at each position over a grain. As a result, it is expected that changes of crystal orientation, mosaic spread angle and thickness of a perfect crystal can be evaluated from the wavelength, the width and the integrated intensity of the Bragg-dip, respectively. For confirming this effectiveness, the method was applied to experimental data of position-dependent Bragg-dip transmission spectra of a Si-steel plate consisting of oligocrystals. As a result, inner information of multiple crystalline grains could be visualized and evaluated. The small change of crystal orientation in a grain, about 0.4$$^{circ}$$, could be observed by imaging the Bragg-dip wavelengths. By imaging the Bragg-dip widths, both another grain and mosaic block in a grain were detected. Furthermore, imaging results of the integrated intensities of Bragg-dips were consistent with the results of Bragg-dip width imaging. These small crystallographic changes have not been observed and visualized by previous Bragg-dip analysis methods.

論文

Analysis of misoriented crystal structure by ion channeling observed using ion-induced secondary electrons

工藤 博*; 坂本 昭彦*; 山本 春也; 青木 康; 楢本 洋; 井上 知泰*; 佐藤 政孝*; 山本 康博*; 梅澤 憲司*; 関 整爾*

Japanese Journal of Applied Physics, Part 2, 35(11B), p.L1538 - L1541, 1996/11

イオンチャネリング現象がはじまる表面層での、単一散乱条件下での2次電子を検出すると、準表面層の原子配列を高感度に評価可能であることを示している。2次電子は、keVオーダーの内殻に属するものを検出して原子配列の情報とした。実例を示すために、Ni及びCeO$$_{2}$$単結晶について通常のRBS法の場合と対比した。

論文

Structural changes on hot-rolling of polyethylene, 1; Crystallite orientation and lamellar deformation

依田 修; 栗山 将

J.Polym.Sci.,Polym.Phys.Ed., 15(5), p.773 - 786, 1977/05

加熱ロールで圧延したポリエチレン(PZ)の結晶配向とラメラ構造の変形機構をX線回折法を用いて解析した。圧延の初期では、ロール圧伸方向に垂直な面内に配向したPZ[110]軸のまわりに回軸した配向特性を示すが、圧延の度合いが増すにつれ、c軸がロール延伸方向にa軸がロール面に垂直な方向に配向する。 ラメラ構造の変形では、ロール圧延の初期から、ラメラ構造に2種類あることがわかった。1つはロール延伸方向に優先的に配向するものがあり、他は延伸方向に、圧延の度合いに応じて一定の角度をなすラメラ法線を有するものである。後者を小角$$times$$線散乱の長周期から解析した結果、圧延初期には、PZのフォルド長は変化せず、分子鎖がラメラ内で傾くことによって、見掛け上、長周期が変化することを見出した。

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